石英分析儀

簡要描述：ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業（勘探、開采、品位控制），工業礦物，生產水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術研究，考古等。其優異的線性動態范圍，可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業進行超高精度的過程控制和質量控制。具有全新真空光路系統和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物都可達到最佳分析效果。

產品廠地：蘇州市
廠商性質：生產廠家
更新時間：2024-10-30
訪問量：1359

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產品分類

XRF光譜儀

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詳細介紹

品牌	英飛思	行業專用類型	地質巖礦
價格區間	面議	儀器種類	臺式/落地式
應用領域	環保,地礦,能源,建材/家具,綜合

EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer

能量色散X熒光光譜儀

礦產礦石專用分析儀

Simply the Best

>*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器

>真空光路配備薄膜濾光片技術，提高輕元素檢出限

>可同時分析40種元素

>可分析固體，液體，粉末和泥漿

>進口X光管管芯提供可靠優秀樣品激發性能

>無損檢測，快速分析（1-2分鐘出結果）

>無需化學試劑，無耗材，更環保，更高效

EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產/礦石分析專家

ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業（勘探、開采、品位控制），工業礦物，

生產水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術研究，考古等。EDX9000B plus優異的線性動態范圍，可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業進行超高精度的過程控制和質量控制。

具有全新真空光路系統和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物（Na₂O、MgO、Al₂O?、SiO?、P₂O₅、SO?、K₂O、CaO、TiO?、Cr₂O?、MnO、Fe₂O?、ZnO和SrO等）都可達到最佳分析效果。

EDX9000B plus優秀的分析性能，使其可以輕松完成對以下礦種的測試：

鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)

銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)

鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)

鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)

鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)

鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)

鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)

鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)

鋁土礦

其它礦類

產品特點

1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高靈敏度、高精度分析

2.可同時分析40種元素

3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術

4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現性以及出色的元素峰分辨率

5.超高記數數字多道電路設計，雙真空抽速機構，真空度自動穩定系統

6.標配基本參數法軟件，多任務，多窗口操作

7.薄膜濾光片技術，有效提高輕元素檢出限

礦產元素檢測專家EDX9000B Plus

>儀器參數

儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm

超大樣品腔：465mm*330mm*110mm

半封閉樣品腔（抽真空時）：Φ150mm×高75mm

儀器重量: 48Kg

元素分析范圍：Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍：1ppm- 99.99%

探測器：AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器

探測器分辨率：122 eV FWHM at 5.9 keV

處理器類型：全數字化DP-5分析器

譜總通道數：4096道

X光管：高功率50瓦光管（進口管芯），冷卻方式：硅脂冷卻

光管窗口材料：鈹窗

準直器：多達8種選擇，最小0.2mm

濾光片：7種濾光片的自由選擇和切換

高壓發生裝置：原裝美國高壓，電壓輸出：0-50kV；輸出電流：0-1mA

高壓參數：最小5kv可控調節，自帶電壓過載保護，輸出精度：0.01%

樣品觀察系統：500萬像素高清CCD攝像頭

電壓：220ACV 50/60HZ

環境溫度：-10 °C 到35 °C

儀器配置

>標準配置	>可選配置
純Ag初始化標樣	磨樣機
真空泵	壓片機
礦石專用樣品杯	烘干箱
USB數據線	ESI-900型XRF專用全自動熔樣機
電源線	電子秤
測試薄膜	礦石標準物質
儀器出廠和標定報告	交流凈化穩壓電源
保修卡	150目篩子

全新設計的XTEST分析軟件

軟件內核包括基本參數法（FP），經驗系數法（EC）,可輕松分析各類樣品。

*光譜處理參數包括用于定義背景連續性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數量

*對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的校正，即基體效應，增強和吸收的校正。

*譜顯示：峰定性，KLM標記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖

*可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應，將光峰強度建模為高斯函數。

*可以使用純基本參數方法，具有分散比的基本參數（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。

*基本參數分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品

*提供多種數據訪問接口，可兼容LIMS實驗室管理系統

鋁土礦樣品10次連續測試穩定性報告

測量次數	MgO	Al2O3	SiO2	P2O5	K2O	CaO	TiO2	MnO	Fe2O3	Pb
鋁土礦-1	0.1054	75.2553	9.9633	0.189	0.1709	0.2083	3.5535	0.0401	10.311	0.006
鋁土礦-2	0.1049	75.2001	10.0606	0.1927	0.1662	0.2035	3.5657	0.0421	10.3259	0.0058
鋁土礦-3	0.1031	75.2126	10.0301	0.188	0.1617	0.2049	3.536	0.0404	10.257	0.0062
鋁土礦-4	0.0998	75.2123	10.0481	0.1937	0.1651	0.2071	3.5573	0.0444	10.3338	0.0061
鋁土礦-5	0.1075	75.2657	10.0629	0.1949	0.1654	0.2193	3.5481	0.0415	10.2885	0.0062
鋁土礦-6	0.1058	75.1657	10.0627	0.1988	0.1724	0.2206	3.5542	0.0404	10.321	0.0062
鋁土礦-7	0.1007	75.1966	10.0811	0.1928	0.1725	0.2199	3.5694	0.0438	10.334	0.0062
鋁土礦-8	0.1008	75.2769	10.0104	0.1947	0.1663	0.2185	3.5289	0.0406	10.2942	0.0059
鋁土礦-9	0.1057	75.2524	10.0968	0.1929	0.161	0.214	3.5483	0.0412	10.3395	0.006
鋁土礦-10	0.1049	75.2344	10.0828	0.1918	0.1635	0.2212	3.5648	0.0423	10.3411	0.0062
平均值	0.104	75.227	10.050	0.193	0.167	0.214	3.553	0.042	10.315	0.006
標準偏差	0.0026	0.0355	0.0397	0.0030	0.0042	0.0071	0.0129	0.0015	0.0272	0.0001
相對標準偏差	2.51%	0.05%	0.39%	1.58%	2.50%	3.31%	0.36%	3.55%	0.26%	2.43%

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